联系人：骆女士
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一、設備應用：
該衝擊試驗箱為待測品動態式冷﹑熱交替衝擊方式,該方法為現在先進的高低溫衝擊方式,廣泛使用於電子零組件測試,汽車零部件,半導體,電子線路板,金屬化學,材料等測試設備.試驗箱後部為低溫蓄冷區,上部為高溫蓄熱區,試件(待測品)放置在試驗箱中部,高溫衝擊時,提籃往上（右）提到高溫區,形成高溫內迴圈.低溫衝擊時,提籃往下（左）提到低溫區,形成低溫內迴圈.該衝擊試驗箱的特點是:試件(待測品)上下（左右）來回反復動作
二、符合標準：
1.GB/T2423.22-93試驗Na 電工電子產品環境試驗 溫度衝擊試驗
2.GJB360.7-87溫度衝擊試驗方法
3.GJB367.2-87 405溫度衝擊試驗方法
4.GJB150.5-1986溫度衝擊試驗
| 主要技術參數
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型號
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工作室（W×D×H（mm）
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外型（W×D×H(mm）
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提籃作室（W×D×H（mm）
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ZRCJ-100
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450×450×500
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1700×1250×
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150×150×200
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ZRCJ-
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500×500×600
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1750×1300×
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200×200×300
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ZRCJ-225
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500×600×750
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1750×1400×
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200×350×350
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ZRCJ-250
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600×600×700
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1850×1400×
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300×300×350
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ZRCJ-408
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600×800×850
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1850×1500×
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300×500×500
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ZRCJ-500
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700×800×900
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1950×1500×2000
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400×500×500
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ZRCJ-800
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800×1000×1000
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2000×1700×2200
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500×600×600
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ZRCJ-010
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1000×1000×1000
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2200×1700×2200
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600×600×600
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18625208860