高低温冲击试验箱 德菲诺恒温恒湿箱新品

　　该冲击试验箱为待测品动态式冷﹑热交替冲击方式,该方法为现在xian进的高低温冲击方式,广泛使用于电子零组件测试,汽车零部件,半导体,电子线路板,金属化学,材料等测试设备.试验箱后部为低温蓄冷区,上部为高温蓄热区,试件(待测品)放置在试验箱中部,高温冲击时,提篮往上（右）提到高温区,形成高温内循环.低温冲击时,提篮往下（左）提到低温区,形成低温内循环.该冲击试验箱的da特点是:试件(待测品)上下（左右）来回反复动作

　　符合标准

　　1.GB/T2423.22-93试验Na 电工电子产品环境试验 温度冲击试验

　　2.GJB360.7-87温度冲击试验方法

　　3.GJB367.2-87 405温度冲击试验方法

　　4.GJB150.5-1986温度冲击试验

　　主要技术参数

　　型号

　　工作室（W×D×H)（mm）

　　外型（约）（W×D×H)(mm）

　　提篮作室（W×D×H)（mm）

　　ZR-100DGF

　　450×450×500

　　1700×1250×1700

　　150×150×200

　　ZR-150GDF

　　500×500×600

　　1750×1300×1800

　　200×200×300

　　ZR-225GDF

　　500×600×750

　　1750×1400×1900

　　200×350×350

　　ZR-250GDF

　　600×600×700

　　1850×1400×1900

　　300×300×350

　　ZR-408GDF

　　600×800×850

　　1850×1500×1950

　　300×500×500

　　ZR-500GDF

　　700×800×900

　　1950×1500×2000

　　400×500×500

　　ZR-800GDF

　　800×1000×1000

　　2000×1700×2200

　　500×600×600

　　ZR-010GDF

　　1000×1000×1000

　　2200×1700×2200

　　600×600×600

　　低温室温度范围： RT～-70℃ 按要求定制

　　高温室温度范围： RT～+200℃ 按要求定制

　　冲击温度范围： -20℃ -40℃ -50℃ -60℃ （ +80 +120℃ +160℃）可以按照要求选定

　　注：可以根据客户要求，定制非标尺寸

　　主要性能参数

　　温度偏差

　　≤±2.0℃(空载)

　　温度波动

　　≤±0.5℃(空载)

　　试样放置方式

　　动态（产品移动式）

　　降温时间

　　RT～-70℃约50分钟(空载)

　　升温时间

　　RT～+200℃约50分钟(空载)

　　温度回复时间

　　≤5min

　　温度转化时间

　　≤15s

　　温度转换方式

　　试样在高低温室通过提篮来回移动，做动态运行

　　试样移动方式

　　气动