蔡司X射线显微镜Xradia 610 Versa

　　蔡司Versa X射线显微镜凭借优异的大工作距离高分辨率（RaaD）的特性，成为了全球优秀研究人员和科学家的“有力帮手”。在相对大工作距离下也能保持超高分辨率，有助于产生意义非凡的科学见解和发现。随着当今技术的快速发展，对分析仪器也提出了更高的要求，而蔡司Xradia 600 Versa系列就是专为应对这一挑战而设计的。

　　蔡司 Xradia 610 & 620 Versa采用改进的光源和光学技术

　　X射线计算机断层扫描成像领域面临的两大挑战是：实现大尺寸样品和大工作距离下的高分辨率和高通量成像。蔡司推出的两款X射线显微镜凭借以下优势完美解决了这些挑战：系统可提供高功率的X射线源，显著提高X射线通量，从而加快了断层扫描速度。工作效率提高达两倍，而且不会影响空间分辨率。同时，X射线光源的稳定性得到提升，使用寿命也更长。

　　主要特性包括：

　　空间分辨率500nm，小体素40nm

　　与蔡司 Xradia 500 Versa 系列相比，工作效率提高两倍

　　更加简便易用，包括快速激活源

　　能够在较大的工作距离下对更广的样品类型和尺寸的样品进行亚微米特征的观察

　　先进科研和工业领域的更多应用将因此而受益

　　这两款用途广泛的仪器可以为不同领域的科研机构和工业客户带来更高的工作效率和价值，助力他们的研究和探索。

　　在生命科学领域，蔡司 Xradia 600 Versa系列可实现更快、更高分辨率的成像，让研究人员能够研究软组织（如神经组织、血管网络、细胞结构、韧带和神经）、骨骼的矿物组织以及植物结构（如根和细胞结构）。

　　凭借RaaD特性，蔡司 Xradia Versa 在大工作距离下也能保证超高分辨率，并且能够对安放在环境试验舱室或高精度原位加载装置中的样本进行成像。这可以让材料科学研究人员在受控的环境条件下以无损的方式表征材料的3D微观结构，以探究不同原位条件下（如加热或拉压）造成的影响。