超声扫描显微镜SCAN 芯片封装内部分层缺陷空洞
超声扫描显微镜SCAN 芯片封装内部分层缺陷空洞

超声扫描显微镜SCAN 芯片封装内部分层缺陷空洞

价格 390,000.00
起订量 10㎡
货源所属商家已经过真实性核验
品牌 思为
型号 YTS-500
关键字
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上海思为仪器制造有限公司
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主营:
同心度测量仪

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电话:13896994189

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产品详情
品牌

思为

规格

1m*0.85m*1m

型号

YTS-500

加工定制

尺寸

1m*0.85m*1m

重量

150KG

分辨率

1000um

测量范围

260mm*25mm*50mm

安装方式

人员安装

适用领域

半导体

发货地

上海

用电标准

220V

最大扫描速度

1000mm/s

运动台精度

±1um

最大耗时

≤30s




水浸超声波扫描显微镜无损检测系统 一体机、桌面机超声显微镜 C扫描焊接低压电器银点钎着率、半导体空洞率、金刚石焊接率、水冷板裂痕无损检测机C-SAM检测设备
可为客户提供超声无损检测仪器定制、检测标准定制、检测方案及夹具定制服务。现已形成C100标准机型、C200大构件机型、C300高速机型及C400小型机,产品已通过CE、CSA认证,可满足低压电器焊接质量检测、金刚石缺陷和厚度测量、水冷板散热器检测、半导体封测等行业需求。
支持非标订制,根据产品测试件来料ODM、OEM等全面服务
需要详细了解,请联系我们哦,期待您的来电!彭 1.3.8.6.7.7.0.7.5.3.7

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