用于DDR5 LPDDR5及GDDR7特性和测试的桌面型ATE测试解决方案

　　用于 GDDR7 特性和测试的 ATE 工作台

　　Introspect technology M5512 GDDR7 内存测试系统平台是一款开创性的解决方 案，可基于 JEDEC GDDR7 的集成电路进行特性化和功能测试。提供高速、双 向 PAM3 讯号、低速 NRZ 信号和完整的协议训练能力，是帮助业界让 DRAM产品 Time to Market 的工具。

　　Key Features :

　　? 完整的内存测试：连接到单 一 GDDR 颗粒中的所有通 道，从而提供所有通道的测 试覆盖范围。 ? 可编程供电电源：编程 对 DRAM 的供电和断电流程

　　? 的讯号完整性： 的顶针组件可在 PAM3 模式 下以 40 Gbps 的速度运行。

　　? 交流特性：PS 等级分辨率的 时序与 mV 分辨率 shmoo 功 能。

　　Key Beneffts :

　　? 最快的上市时间：深度执行内 存读取&写入操作并测试出电 气特性以及时序规范

　　? 的 PAM3 讯号传输：利 用多年的 SerDes 技术知 识，完整的保护 GDDR7 以及PAM3 的讯号规范的要求。

　　? 自动化：软件控制环境非常适 合编排任务、验证以及设备与 系统间的自动化整合控制。

　　Access to every pin and every memory cell

　　The M5512 includes an integrated test board for easy DUT attachment.