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Micromatter 测厚仪铜镍铬三镀层标准片 Calmetrics Cr/Ni/Cu/XX
这些是由3或4个独立的、不同的层组成的高纯度箔，这些层由单元素膜组成，在某些情况下，还包括合金膜。这种箔可以放置在任何空白基板上用于XRF校准或3或4层厚度和成分测量。由于其固有的脆弱性，所有具有总厚度为1微米或更小的金属膜的箔都应用于3.6微米的聚酯薄膜上，以提供支撑并增强耐用性。特殊元件箔可能会出现例外情况。较厚的箔组合也可以用薄的有机（X射线透明）膜支撑，以增加支撑和耐久性。这些箔片粘附在不锈钢金属框架上，便于搬运和贴标签，暴露出箔片的有限区域进行测量。
Cr/Ni/Cu (Chromium/Nickel/Copper) 3 layer foils铜镍铬三镀层箔可用厚度：
Part No.S13100-1，理论厚度：Cr：0.25 μm；Ni：5 μm；Cu：5 μm
Part No.S13100-2，理论厚度：Cr：0.25 μm；Ni：5 μm；Cu：12.5 μm
Part No.S13100-3，理论厚度：Cr：0.5 μm；Ni：5 μm；Cu：12.5 μm
Part No.S13100-4，理论厚度：Cr：0.25 μm；Ni：5 μm；Cu：17.8 μm
Part No.S13100-5，理论厚度：Cr：0.25 μm；Ni：10 μm；Cu：17.8 μm
以上厚度值为理论厚度，收到的厚度值将在理论值附近。
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