联系人：丁成峰
邮箱：dcf0135@163.com
电话：13701600767
地址： 上海嘉定区临夏路256号电子商城5号楼
Micromatter 测厚仪铜基镀镉标准片 Calmetrics Cd/Cu
在几乎所有情况下，这些都是高纯度的单元素膜，由沉积在固体、刚性、厚基底上的一层组成。这些标准比相应的箔标准更坚固且通常成本更低，但通常适用于一个或一小组涂层厚度应用。XRF使用基底上的单层涂层标准片来校准具有与标准品相同或相似基底的样品上的单层厚度测试应用。如果标准片的基质与测试样品的基质不同，请在购买这些标准片之前咨询上海益朗仪器有限公司。这些标准件通常安装在与箔标准件相同的框架中，暴露出用于测量的标准件的有限区域。
Cd/Cu (Cadmium/Copper)铜基镀镉标准片可用厚度：
Part No.SCD40CU999，理论厚度：1 μm
Part No.SCD100CU999，理论厚度：2.5 μm
Part No.SCD200CU999，理论厚度：5 μm
Part No.SCD300CU999，理论厚度：7.5 μm
Part No.SCD600CU999，理论厚度：15 μm
Part No.SCD800CU999，理论厚度：20 μm
Part No.SCD1000CU999，理论厚度：25 μm
以上厚度值为理论厚度，收到的厚度值将在理论值附近。
13701600767