维度科技 单芯 3D形貌检测 光纤端面干涉仪 BINNA2

　　BINNA2是维度科技研发的一款自动检测干涉仪，该设备继承了维度科技多年的干涉仪丰富经验，在SANA2的基础上增加了自动对焦和自动校对等功能，是单芯干涉仪功能集大成者。 BINNA2采用全新的软件设计、全新的夹具平台结构和夹具结构设计,进一步提升了设备的抗震能力； 夹具的使用寿命以及测量稳定性也空前提升。

　　主要特性

　　光纤高度达 -1000~1000nm

　　角度自动调节

　　自动对焦、自动校对、一键测量

　　0.5s 完成单个连接器测试

　　抗震性能力强

　　主要应用

　　用于抛光和组装过程中检查光纤插芯、跳线、尾纤和裸光纤

　　-1000~1000nm 光纤新高度

　　BINNA2 自动检测干涉仪采用全新光路设计， 光纤高度测量范围高达 -1000~1000nm，适合各种复杂工况的使用。

　　夹具自动居中功能

　　BINNA2 干涉仪夹具采用全新设计，安装在干涉仪上后无需做任何硬件调整，只需在软件界面上点击”图像居中”按钮，软件将自动导引完成定位光标的定位工作。

　　一键测量

　　BINNA2 夹具平台正面配备了一键测量快捷键，夹具锁紧感应结构能够自动获取当前夹具的锁紧状况，在每次夹具锁紧时软件进行自动测量。

　　全自动对焦、全自动校准

　　BINNA2 采用维度的软硬件平台，在 SANA2 的基础上增加了自动对焦和自动校对等功能，让整个测量过程 100% 自动完成。

　　极快的检测速度

　　BINNA2 优秀的软硬件设计极大的提高了测试的速度，能够在 1.5s 内完成 包含端面分析与表面形貌测量的工作，最快可在 0.5s 内完成单个连接器的测试。

　　角度自动调节

　　BINNA2 实现 0~12°超广角度的全自动调节，0.003°的调节精度让 APC 角度测量更加。

　　自适应锁紧力度的夹具设计

　　BINNA2 夹具采用自适应锁紧力度的结构设计，依靠弹簧自动调节锁紧陶瓷插芯的力度，保证每次锁紧力度一致，减少夹具的磨损并延长使用寿命。

　　稳定的数据连接及的抗震性能

　　BINNA2 沿用干涉仪系列的锁紧式 USB 3.0 数据线，保证任何情况下都有稳定高速的 数据连接 ; 独特的硬件结构设计，能搞保证 在震动极大的工厂环境中依然能够获得稳定的测试结果和测量精度。

　　裸光纤切割角度测量

　　维度科技根据客户需求在 BINNA2 集成了多 种产品测量功能。BINNA2 可以测试光纤的切割角度。

　　性能参数

　　* 再现性：重复插拔 50 次计算后获取的 sigma 数值重复性：不插拔重复测量 50 次计算后获取 sigma 数值

　　主要应用

　　用于抛光和组装过程中检查光纤插芯，跳线，尾纤和裸光纤。