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ES62X-LVS 低压浪涌测试系统 晶片低压浪涌测试 IEC61000-4-5
ES62X-LVS低压浪涌系统
型号ES62X-LVS低压浪涌系统，输出IEC 61000-4-5标准中描述的雷电特性，旨在测试晶圆和封装级别的设备的浪涌抗扰性。使用可用的ESD波形和曲线跟踪功能之一，可以轻松确定ESD故障阈值。
脉冲源设计和脉冲源传送方法可确保直接在被测设备上而不是在发生器输出上确保波形性能。可以捕获和分析每个ESD事件的电流波形。另外，可以捕获电压波形并将其用于确定保护结构的开启电平。它们还可以用作故障确定的手段，因为电压波形显示出脉冲事件后的变化。
特征
波形非常干净，线性高达500 V
完全隔离的电涌脉冲电路
软件控制的自动测量
自动故障检测包括DC点检和静态IV
类别：脉冲IV曲线解决方案标签：精选，IV曲线，LV-Surge，脉冲发生器
1. 说明
ES62X-LVS型低压浪涌系统，输出IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002标准中描述的雷电特征波形，旨在测试两个晶片上器件的浪涌抗扰性和包装级别。使用可用的ESD波形和曲线跟踪功能之一，可以轻松确定ESD故障阈值。
脉冲源设计和脉冲源传送方法可确保直接在被测设备上而不是在发生器输出上确保波形性能。可以捕获和分析每个ESD事件的电流波形。另外，可以捕获电压波形并将其用于确定保护结构的开启电平。它们还可以用作故障确定的手段，因为电压波形显示出脉冲事件后的变化。
2. 特点
从1V到500 V的波形干净线性
完全隔离的电涌脉冲电路
软件控制的自动测量
自动故障检测包括DC点检和静态IV
3. 应用
根据IEC61000-4-5 8 20μs规格测试电源，驱动PCB，通信系统，LCD显示面板的浪涌脉冲抗扰度
测试晶圆，封装和PCB浪涌操作系统抗浪涌脉冲的抗扰度
晶圆，封装，PCB和系统浪涌抗扰度的10 1000μs测试
4. 规格
5. 订购信息
低压浪涌IV曲线系统
附加选项
参量 LVS-500-8 20选件 LVS-500- 101000 选件 单元 输出电压（空载） 1 – 500 1 – 500 V 输出电流（短负载） 0.5 – 250 0.12 – 55 一个 输出精度 ±5％ ±5％ ％ 输出电阻 2±10％ 9±10％ Ω 短路电流前置时间 8±20％ 10 – 40％ 微秒 短路电流达到一半 20±20％ 1000 +20％ 微秒 开路电压前沿时间 1.2±30％ 10 – 40％ 微秒 开路电压至一半 50±20％ 1000 +50％ 微秒 尺寸图 347 X 300 X 145 毫米 重量 12 公斤 电压探头 无源分压器探头101：1 电流探头 无源电流探头，0.1 V A
线 零件号或选件号 描述 1.0 ES62X-LVS ES62X-LVS型低压浪涌系统 1.1 LVS-500-8 20 低压浪涌820模块，500V 1.2 LVS-500-10 1000 低压浪涌101000 us模块，500V 2.1 KSMU2400 SMU，200V，1A，20W，单通道（用于设备DC自动化故障检查） 2.2 ES62X-CMPS 紧凑型手动探针台 2.3 ES62X-XYZM-TIM XYZ微型定位器–在线模型，XYZ行程500密耳，每步0.01mm 2.4 ES62X-XYZM-PAA 具有电压测量功能的PCB探针臂组件（Type C X1，Type B X2） 2.5 ES62X-XYZM-GAA GND探针臂组件 2.6 ES62X-XYZM-PP048 048 Pogopin探测头 2.7 ES62X-XYZM-PP075 075 Pogopin探测头 2.8 ES62X-XYZM-TN1 钨针– 5密耳的探测头 
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