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| 型号 |
IM7580 |
类型 |
分析仪器 |
IM7580日本日置IM7580阻抗分析仪
日本日置IM7580阻抗分析仪
300MHz快、通过高速测量和高反复精度缩短工时、加速生产
测量频率1MHz~300MHz
测量时间：0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
HIOKI日置阻抗分析仪IM7580的特点：
1.300MHz的高频测量
IM7580的测量频率为1MHz~300MHz。在以单一频率测量的LCR表的模式下，判断出货检查时的合格与否，改变频率的同时在测量的分析模式下可用于产品开发的特性评估等多种领域中。
2.最快0.5ms的高速测量或高稳定性的测量，有助于提高生产效率
可进行最快0.5ms（0.0005秒）的高速测量。这样，对于希望更快速的检查大批量电子元器件的电子元器件厂家来说能够大幅提高生产效率。
而且，测量的反复精度提高到以往产品的1/10，让测量更加稳定，改善了生产产量，提高了生产效率。
3.主机体积更小，有助于降低生产成本
在电子元器件厂家的生产线中，将各种仪器整合在机架上制作成检查系统，然后进行自动检查。因此，主机体积小的话，则检查系统也会小巧，通过安装多台仪器可以索多检查时间，从而降低生产成本。
IM7580的体积是半个机架的大小（长215mm，高200mm，厚268mm），一个机架可以安装2台。
4.各种各样的判断功能判断合格与否
在单一的频率测量的LCR表的模式下，有判断电子元器件合格与否的比较器功能，选择电子元器件的BIN功能。比较器功能中设置上下限值，以此为判断标准来判断是否合格。使用比较器功能是按照一个判断标准判断是否合格，而BIN功能是最多设置10个判断标准，然后进行排名
使用多个频率测量的分析模式的话，则有可从电子零部件的频率特性中判断合格与否的区域、峰值比较功能。区域判断是确认测量值是否进入任意设置的判断区域中的功能。峰值判断是设置上限值、下限值、左限值、有限制后，判断共振点的功能。
HIOKI日置阻抗分析仪IM7580主要用途：
电子元器件厂家的电子元器件的出货检查；
电子公司的电子元器件的验收和特性评
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