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| 品牌 |
美华科技 |
型号 |
MH-SCAN400A |
| 货号 |
110 |
类型 |
仪器设备 |
| 材质 |
大理石平台铝镁合金 |
产品用途 |
该设备主要用于半导体行业芯片表面外观检测,也可导入MAP图进行比对识别和缺陷检测 如:芯片表面划伤、划痕、DIE丢失、崩边崩角、OCR识别等等 |
| 加工定制 |
是 |
外形尺寸 |
长*宽*高 ( 755*798*850)mm |
用途:
该设备主要用于芯片外观缺陷检测,也可导入MAP图进行比
对识别和外观检测 如:晶圆表面划伤、划痕、DIE丢失、芯片崩边、崩角缺陷检测等;