3500/34 125696-01

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　　在测试开始时，当有数量的功能组件“运行”时，故障组件和幸存组件的数量会发生快速变化当组件由于随机事件而失效时，幸存组件的数量越来越少，这导致两条曲线的接近速度更慢，原因很简单，因为只剩下更少的幸存组件会失效。

　　这些曲线与RC(电阻-电容)充电电路中看到的曲线完全相同，电压和电流跟踪互补路径:一个上升至100%，另一个下降至0%，但两者都以不断下降的速率上升。尽管两条曲线都是渐近的，但是，我们可以用一个具有常数值的RC电路来描述它们的渐近，这个电路也称为时间常数对于RC电路。故障率(\(\lambda\))在描述一批测试组件的故障/幸存曲线时起着类似的作用:

　　\[n _ { surviving } = n _ o e^{-\lambda t } \ hs kip 30pt n _ { failed } = n _ o \ left(1-e^{-\lambda t } \ right)\]

　　在哪里，

　　NIBCO WD2000

　　NMB-MAT 2410ML-05W-B50

　　NMS CG6565/64-2L/8TE

　　NMS CG6060/32-4TE1

　　NOVELLUS 02-113640-00

　　OBERG INDUSTRIES F-DMDM-PM-110E

　　OCM 44A737830-001R04

　　OMACO GF0-57CQD-002

　　OPTO 22 SNAP-IDC5D

　　OPTO 22 SNAP-AITM-2

　　ORIENTAL A4722-9215KM

　　ORIENTAL 2GK180K

　　OVATION 5X00070G04

　　OVATION 1C31157G02

　　OVATION 5X00063G01

　　OXIDE 0020-31655

　　P-OPEN P-OPEN-P4-150/PAC-OP150/P4

　　PACIFIC LA23GCKC-1Y

　　PACIFIC 6410-009-N-N-N

　　PACIFIC LA23GCKX-P500A

　　PACIFIC LLA23GCKX-P500A

　　PACIFIC PC3406AI-001-E

　　PACIFIC SCE904AN-002-01

　　PACIFIC 6410-001-N-N-N

　　PACIFIC 6445-001-K-N

　　PACIFIC 6410-024-N-N-N

　　PACIFIC 33VM52-000-4

　　PALCLEAN JD-BXG

　　PANAMETRICS 704-673-20

　　PANASONIC MSD043A1XX

　　PANASONIC DL-1109CWS

　　PANASONIC KX-FT936CN

　　PARKER XPR10VT-4P3

　　PARKER COMPAX 2500S/F3

　　PARKER ZETA6104

　　PARKER EVM32-BASE

　　PELCO PA30-0065-00-A1