3500/15 133292-01

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　　一个说明性的例子在这里是有帮助的:如果我们要在没有维护或其他干预的情况下在一段延长的时间内测试一大批相同的组件的正确操作，则该批中有故障的组件的数量将逐渐累积，而该批中幸存的组件的数量将逐渐减少。原因是显而易见的:每一个出故障的组件仍然是出故障的(没有修复)，少了一个幸存的组件可以工作。如果我们将该测试的持续时间限制在比部件的预期寿命短得多的时间跨度内，则测试期间发生的任何故障必定是由于随机原因(“不可抗力”)而不是部件磨损。

　　这种情况类似于另一个随机过程:掷，将任何“1”视为“失败”，将任何其他掷出的数字视为“幸存”想象一下，一次掷出整批，将落在“1”上的放在一边(将它们算作该批中“失败”的组件)，然后只掷出剩余的下次掷。如果我们保持这种协议——每次掷出“失败”的，下一次只继续掷出“幸存”的——我们会发现自己在每一次连续掷出的“幸存”越来越少。尽管每个六面都有固定的失败概率(1/6)，但“失败”的数量会随着时间的推移而不断增长，而“幸存”的数量会随着时间的推移而不断减少。

　　在这样的测试中，不仅存活组件的数量会随着时间的推移而减少，而且数量还会以越来越慢的速度减少。同样，故障的数量也是如此:故障组件的数量(显示为“1”)起初，但在幸存组件的数量变得越来越少后逐渐减少。随着时间的推移，图表看起来像这样:

　　MSPC MSPC-6886/6800

　　MTL MTL2213

　　MTL MTL5541

　　MTL 8939-HN

　　MTL MTL5053

　　MTL 8937-HN

　　MTL 8811-IO-DC

　　MTL MTL4073

　　MTL MTL838B-MBF

　　MURR 857781

　　MYKROLIS FC-280SAV

　　Modicon AS-B875-002

　　NACHI BUY222

　　NACHI MFMA452D5V3

　　NACHI UM356B

　　NAI 64SD1-08KRF1-13

　　NAICH AUX111

　　NI PXI-6030e

　　NATIONALA MM-4M-R

　　NDELAG INFO-4KP-94161

　　NEC FC-9821X MODEL2

　　NEC G8NXAA5G

　　NEC 136-553623-A-01

　　NEC FC-9801F

　　NEC 136-551735-D-04

　　NEC FC-9821KE

　　NEC RSA-983/D

　　NEC 136-551733-B-02

　　NEC PC-9821XB10

　　NEC SC-UPCIN-3

　　NEC 136-551973-A-01

　　NEC FC-9821X MODEL1

　　NEUGART PLE120