镀层测厚仪compact eco

　　德国ROENALYTIC Compact ECO X射线镀层厚度和元素分析仪

　　德国ROENALYTIC(宏德roentgenanalytik) Compact ECO X射线镀层厚度和元素分析仪

　　Compact ECO X射线荧光分析仪/镀层测厚仪/膜厚仪/元素分析仪

　　Compact ECO具有小巧独特的设计，为您尽可能节省成本，是进口荧光分析仪最实惠的产品，适合中小工件的测量，功能实用，准确性高，是五金、首饰、端子等行业的首选。

　　规格参数：

　　高压电源:25-50KV，1.2mA

　　X光管：钨(W)靶,光点0.5mm*0.5mm

　　准直器：

　　单准直器：0.3mm或0.5mm

　　样品台： NO XY,Z60mm

　　样品定位： 手动定位

　　放大倍数： 20 X

　　外型尺寸： H35 cm，W40 cm，D60 cm

　　样品室(测试箱)： H 6 cm，W38 cm，D37cm

　　主电源： 110V/ 230V， 60HZ / 50HZ

　　X - MasteR： 操作系统 WINDOWS 2000 / NT/XP

　　u- MasteR： 测量模式：单层、双层、三层、四层、合金层，可测元素范围：Ti-U

　　Fun-MasteR：基本参数法(FP)校对模组，可实现标准片校对模式及无标准片校对模式

　　Element-MasterR：定性分析模组，一次最多可分析20种元素(针对合金材料)

　　%-MasteR：定量分析模组，一次最多可分析20种元素(针对合金材料)

　　Liquid-MasteR：电镀药液分析模组(针对药液主成份金属离子浓度)

　　Data-MasteR：资料统计模组，最小值、值、平均值、误差，统计图表CP、CPK等

　　Report-MasteR：报告编辑模组，文本格式，Word格式

　　多元合金或贵金属成色分析：K金、纯金、纯银、饰银、铜材、钢材等

　　多层电镀厚度分析：Au/Ni/Cu/Fe/Cr/Ni/Cu/Zn等

　　自动计算可测厚度范围

　　无论是很大的汽车部件、卫浴器具、PCB，还是很小的半导体支架、接插端子、金银首饰，德国ROENALYTIC宏德公司都一一有理想的仪器去进行测量。德国ROENALYTIC宏德提供的都是高效率、低成本的测量仪器，它广泛应用于各类电镀工件的镀层测厚及贵重首饰的成色分析，简单易用，维修方便，绝对是节省生产成本及保证品质的好帮手。

　　Compact 5标准配置包括：

　　主机箱及计算机控制部份

　　主机箱尺寸 350 x 400 x 600 mm

　　(W) 钨靶 X-射线管 光点0.5mm*0.5mm 低损耗型，延长使用寿命

　　高压发生器：25-50KV；max，1.2mA软体控制

　　视像系统：彩色CCD摄录镜头，视野8×6㎜,放大倍数：20X

　　模拟计数器,单个准直器(0.3mm)

　　DELL计算机控制系统,19"LCD,彩色打印机

　　WINDOWS? XP计算机系统软件及X-MASTER基本分析系统软件

　　安全性能：通过德国PTB安全验证，

　　符合德国最高安全法规标准，表面泄露少于1usv

　　U-MASTER 测厚模式：单层，双层，三层，四层，合金层，

　　可测量元素:钛(Ti)-铀(U)

　　可测量厚度范围: 原子序 22-25: 0.1-0.8um; 26-40: 0.05-35um;

　　43-52: 0.1-100um; 72-82: 0.05-5um.

　　误差:表层5%,二层10%,三层10%-15%

　　FUN-MASTER :基本参数法(FP)校对模组,可实现标准片校对模式及无标准片校对模式

　　Element-MASTER:定性分析模组，一次最多可分析20种元素（针对合金材料）

　　%-MASTER:定量分析模组，一次最多可分析8种元素（针对合金材料）

　　Liquid-MASTER:电镀药液分析模组（针对药液主成分金属离子浓度）

　　Data-Master:资料统计模组，最小值，值，平均值，误差，统计图表CP，CRK等

　　Report-Master:报告编辑模组，文本格式，WORD格式。

　　样片台结构:Z轴电动及手动,样品定位：XY手动定位

　　以上配置供参考，具体以我司报价单为准