CMI700测厚仪配SRP-4面铜探头ETP孔铜探头

　　CMI 700专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。

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　　CMI 760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和精确的测量。CMI 700台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。

　　同时CMI 760具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。

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　　CMI 700配置包括：

　　CMI 700主机及证书

　　SRP-4探头

　　SRP-4探头替换用探针模块（1个）

　　NIST认证的校验用标准片及证书

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　　选配配件：

　　ETP探头

　　TRP探头

　　SRG软件

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　　SRP-4面铜探头测试技术参数：

　　铜厚测量范围：

　　化学铜：10μin–500μin (0.25μm–12.7μm)

　　电镀铜：0.1 mil–6 mil (2.5μm–152μm)

　　线形铜可测试线宽范围：8 mil–250 mil (203μm–6350μm)

　　准确度：±1% (±0.1μm)参考标准片

　　精确度：化学铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 %

　　分辨率：0.01 mils≥1 mil, 0.001 mils <1 mil,

　　0.1μm≥10μm, 0.01μm < 10μm, 0.001μm < 1μm

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　　ETP孔铜探头测试技术参数：

　　可测试最小孔直径：35 mils (899μm)

　　测量厚度范围：0.08–4.0 mils (1–102μm)

　　电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定

　　准确度：±0.01 mil (0.25μm) < 1 mil (25μm)

　　精确度：1.2 mil（30μm）时，达到1.0%（实验室情况下）

　　分辨率：0.01 mils (0.1μm)

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　　分辨率：0.01 mil(0.1μm)

　　显示6位LCD数显

　　测量单位um-mils可选

　　统计数据平均值、标准偏差、值max、最小值min

　　接口232串口,打印并口

　　电源AC220

　　仪器尺寸290x270x140mm

　　仪器重量2.79kg