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| 型号 |
CUBE-X |
工作原理 |
超声波测厚仪 |
| 用途 |
涂层测厚仪 |
测量范围 |
1 |
| 显示方式 |
1 |
电源电压 |
2 |
| 加工定制 |
否 |
外形尺寸 |
1 |
| 重量 |
1 |
产地 |
日本 |
| 厂家 |
安捷特 |
|
安捷特ACZET镀层测厚仪CUBE-X系列产品介绍
测量方向：由上向下镀层元素范围：Al铝～U铀电压：50kV（1.2mA）探测器（可选）：正比计数器、Si-Pin、SDD硅漂移单准直器：0.3mm?、0.5mm?镀层层数：多至5层测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2毫米-0.8毫米测量时间：30秒-180秒样品仓尺寸：375mm (长)x 350mm (宽) x 255 mm (高)仪器尺寸：605mm (长) x 405mm (宽) x 415 mm (高)同时定量测量8个元素。定性材料达24个元素。
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产品规格
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