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| 型号 |
XAU-4CS |
工作原理 |
X射线测厚仪 |
| 用途 |
镀层测厚仪 |
测量范围 |
0-0.000005 |
| 显示方式 |
电脑 |
电源电压 |
220 |
| 加工定制 |
是 |
外形尺寸 |
550mm*480mm*470 |
| 重量 |
45 |
|
XAU-4CS是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
微小样品检测：最小测量面积0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）
变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm
自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也测量
先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限
高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器
光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置
多准直器自动切换
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