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| 型号 |
FISCHERSCOPE X-RAY XAN |
工作原理 |
X射线测厚仪 |
| 用途 |
镀层测厚仪 |
测量范围 |
分析检出限可达2ppm，薄可测试0 |
| 显示方式 |
电脑显示 |
电源电压 |
AC 110V/220 |
| 加工定制 |
是 |
外形尺寸 |
550×416×333 |
| 重量 |
45 |
|
测量对象
镀层测厚仪适合各种应用的合适设备
和XUL系列一样，镀层测厚仪X射线XAN®仪器非常适合分析简单形状的样品。然而，XAN系列的一大优势在于其高质量的半导体探测器。X射线荧光不仅可以测量镀层的厚度，还可以分析合金（例如铜）的成分。
XAN系列总共包括5款台式XRF光谱测厚仪，涵盖广泛的应用范围。XAN215具有经济高效的PIN检测器。非常适合简单的镀层厚度任务，例如铁上的锌层或Au/Ni/Cu。对于更复杂的合金或贵金属应用，我们建议使用带有硅漂移检测器SDD的设备（例如XAN220）：由于其分辨率更高，可以可靠地区分金和铂。当您需要检测痕量重金属和其他有害物质时，XAN250是您的理想选择。
更强大的性能归功于DPP+和更大面积的硅漂移探测器
在XAN 220, XAN 222, XAN 250和XAN 252上，您现在可以更高精度和更快速度完成测量。与GOLDSCOPE SD 520和SD 550，这些仪器都配备了完全由Fischer自主研发的数字脉冲处理器DPP+。通过将新处理器与同样新获得的拥有更大有效面积(50 mm2)的硅漂移探测器相结合，可获得并处理更多的信号，同时还能保证的能量分辨率。因此，您的收益是：最多可缩短2/3的测量时间，或者减少标准偏差达45%。
特点
· 根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析，镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光镀层测厚仪
· 半导体检测器（PIN和SDD） 确保出色的检测精度和高分辨率
· XAN 250和252：用于测量铝，硅或硫之类的轻元素；
· 准直器：固定或4种可切换，最小测量点约为0.3mm
· 基本滤片：固定或6种可切换
· 固定样品支架或手动XY载物台
· 摄像头可轻松定位测量位置
· 样品高度最多17厘米;
应用
· 牙科合金的无损分析，银测试
· 多层镀层测试
· 电子和半导体行业中厚度为10nm以上的功能涂层的分析
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· 消费者保护中的痕量分析，例如测试玩具中的铅含量
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· 根据珠宝业和炼油厂精度要求测量金属合金含量
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