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| 品牌 |
安原仪器/AtomicInstruments |
型号 |
XAU50A |
| 货号 |
ATO |
材质 |
不锈钢 |
| 类型 |
镀层 |
适用范围 |
镁(Mg)~铀(U) |
| 重量 |
58 |
规格 |
台式镀层测厚仪 |
| 加工定制 |
否 |
是否进口 |
否 |
仪器简介：
XAU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。
应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
产品优势：
技术参数：
1. 成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）
2. 成分检出限：5ppm
3. 涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）
4. 涂镀层检出限：0.005μm
5. 最小测量直径□0.1*0.3mm（最小测量面积0.03mm2）
标配：最小测量直径0.3mm（最小测量面积0.07mm2）
6. 对焦距离：0-30mm
7. 样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm
8. 仪器尺寸：550mm*480mm*470mm
9. 仪器重量：45KG
10. XY轴工作台移动范围：50mm*50mm
11. XY轴工作台承重：5KG
层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。
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