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金属涂层（方阻）测试仪详情介绍
四探针法 金属涂层方阻测试仪详情介绍
适用范围Widely used：
1.覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，
技术参数Technical Parameters：参数资料Parameters：
| 1.方块电阻
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1×10-6～2×103Ω/□
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2.电阻率
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10-7～2×103Ω-cm
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3.测试电流范围
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1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA
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4.电流精度
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±0.1%
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5.电阻精度
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≤0.3%
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6.显示读数
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液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
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7.测试方式
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组合双电测试方法
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8.工作电源
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输入: AC 220V±10%.50Hz功 耗：<30W
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9.误差
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≤4%（标准样片结果）
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10.选购功能
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选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平；5.标准电阻
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11.测试探头
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探针间距选购： 2mm；3mm两种规格; 探针材质选购：碳化钨针、镀金磷铜半球形针
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四探针法 金属涂层方阻测试仪详情介绍
18157427375