非接触式探针台,探针测试分析适合高频电子,IC和材料测试表征

非接触式探针台,探针测试分析适合高频电子,IC和材料测试表征

价格 200,000.00
起订量 10㎡
货源所属商家已经过真实性核验
品牌 辅光仪器
型号 FPTER-Teraprobe
关键字
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辅光精密仪器(上海)有限公司
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主营:
激光粒度仪器-光学成像仪器 - 医用光学仪器

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产品详情
型号

FPTER-Teraprobe

测量范围

0

读数准确度

0

装箱数

1

加工定制

重量

25

产地

www.f-lab.cn/tanzhentai.html

厂家

www.f-lab.cn/tanzhentai.html

  这款非接触式探针台是为高频电子设备、IC和材料测试/表征设计的非接触式探针测试分析系统。shou次实现了整个毫米波和太赫兹波段电子设备和IC的自动S参数表征。测量范围为55GHz-1.1THz

  非接触式探针台还是全自动的探测试验台,能够对晶圆上的每个芯片进行wu人值守的检查,并具有如下功能:

  毫米波和太赫兹波段的片上S参数测量

  无磨损,消除了接触式微探针的主要缺点

  亚微米对准重复精度,实现可靠和可重复的测量

  通过精que的晶圆校准实现多端口器件和IC特性

  适用于整个毫米波太赫兹波段的通用、经济高效的测试台

  非接触式探针台还可以做成材料表征系统使用高精度机械臂和新型校准,以1000分之一的精度精que测量材料面板和薄膜的介电常数和损耗角正切。

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