荧光光谱测厚仪,镀层测厚仪Thick800A适合镀层厚度测量

　　这款荧光光谱测厚仪Thick800A是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型镀层测厚仪和厚度测量仪.主要应用于:金属镀层的厚度测量,电镀液和镀层含量的测定;黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.由于光测厚仪是在线测量仪表,检测的厚度是钢板热态时的厚度,这样会和冷态时的厚度有一定的偏差,所以就增加了温度补偿系数.使在线测量的数据与冷态时保持一致.同样如果轧制材质有变化时,也会给测量带来误差.这时只需将不同材质的样板进行检测,计算出合金补偿系数,也可以使测量数据和实际材质厚度保持一致.

　　荧光光谱测厚仪的主要优势有：

　　1、光测厚仪有优化的配置，性价比极高。

　　2、提供的控制参数。

　　3、测量中不会造成对金属镀层的表面划伤和其他缺陷。

　　4、光测厚仪，稳定，高速的无接触测量。

　　5、备件充足，售后服务快速细致。

　　x荧光光谱测厚仪Thick800A技术指标元素分析范围从硫(S)到铀（U）。 同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

　　分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

　　任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。

　　多变量非线性回收程序 适应范围为15℃至30℃。

　　电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

　　外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

　　重量：90kg

　　x荧光光谱测厚仪Thick800A特色

　　1.可测量0.01um-300um的镀层。

　　2.可做各种镀层（多层、合金、多层鎳）的精密测量。

　　3.除平板形外，还可测量圆形、棒形（细线）等各种形状。

　　4.可制作非破坏性膜厚仪的标准板。

　　5.该电镀膜厚检测仪可检查非破坏式膜厚仪的测量精度。

　　6.可高精度测量其他方式不易测量的三层以上的镀层。

　　7.可对测量数据进行统计处理，以及和逐级进行共同管理。

　　8.标准板校正值的计算和设定可自动进行，非常简单。

　　9.有微处理器来进行计算、储存、思考。

　　10.本膜厚仪采用全对话是操作，因此，只要依据测量条件来进行设定就可测量情况，非常简单。

　　11.多可设定四层镀层，而每一层均可进行统计处理。例如：测量条件、平均值、值、小值、上下限值、直方圆均可进行计算并可有列印机印出，制作测量报告很容易。

　　12.每种镀层所需的电解液、敏感度及搅动标准的选择，均可由电镀膜厚检测仪的微处理器自动判断、设定。

　　13.测量数据可由通讯网路来传輸，所以能和主机共同进行数据管理。

　　14.由于分解速度差距分得很细，因此可缩短测量时间。

　　15.可分离测量铜（合金）上的锡（合金）镀层间的扩散（合金）层。

　　16.由于可储存６４个不同的测量情况，所以有相同的测量情况时，就不必再进行设定。