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| 型号 |
FPKEL-APS |
焦距 |
12 |
| 波长范围 |
250-1100nm |
狭缝尺寸 |
1 |
| 光学分辨率 |
1nm |
电源电压 |
220 |
| 适用范围 |
色度计量 |
重量 |
78 |
| 厂家 |
www.felles.cn/kaierwen.html |
|
环境压力光电子发射光谱仪系统是为大气环境下光电子能谱测量设计的光电子能谱仪器,Photoemission Spectroscopy，通过空气中的光电发射测量材料的功函数，不需要真空，具有英国和全球专利。
(上述价格不准确，请您联系我们获得准确报价）
环境压力光电子发射光谱仪系统在3.4eV到7.0 eV的激发范围内能够测量金属的功函数（精度：0.05 eV）和半导体的电离电位，同时使用开尔文探针测量表面费米能级（精度：0.001 eV）。
随着表面光电压（SPV）和表面光电压谱（SPS）的加入，环境压力光电子发射光谱仪系统可以测量半导体的全波段。
环境压力光电子发射光谱仪系统特点
空气中光电效应的功函数
态密度测量
3.4 eV至7.0 eV能量范围
所有半导体带的测量
用开尔文探针测量接触电位差
环境压力光电子发射光谱仪系统应用
有机和非有机半导体
金属和金属合金
薄膜和表面氧化物
太阳能电池与有机光伏
腐蚀与纳米技术
环境压力光电子发射光谱仪系统规格参数
| 规格参数 | APS01 | APS02 | APS03 | APS04 |
| 开尔文探针三轴扫描功能 |
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| 表面光电压（SPV） |
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| ? | ? |
| 表面光电压谱（SPS） |
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| ? |
| 针尖Tip材料 / 直径 | 2 mm gold tip | |||
| CPD分辨率 | 1 - 3 meV | |||
| 高度控制 (自动) | 25 mm 自动 | |||
| 开尔文探针模式和PE模式 | CPD 和光发射测量 | |||
| CPD 测量时间 | CPD 测量时间 <1分钟 | |||
| PE分辨率 | 全部光电子发射测量 | |||
| WF 测量时间 | PE测量 <5分钟 | |||
| DOS 测量 | Full access to DOS information | |||
| 光学系统 | 彩色相机带ZOOM放大,监测定位 | |||
| 示波器 | 数字TFT示波器用于实时信号 | |||
| 测量样品 | 金, 铝 ，银等 | |||
| 法拉第外壳底座 (mm) | 450 x 450 mm 法拉第外壳 | |||
| 控制系统 | 计算机控制，标配软件 | |||
| 已经申请的专利 | US:8866505 / GB:2439439 / GB:2495998 / EU:2783205 / JP:6018645 | |||
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