穆勒矩阵偏振测量仪,斯托克斯偏振分析测试仪

　　这款穆勒矩阵偏振测量仪Mueller Polarimeter采用斯托克斯偏振分析测试仪和Spectroscopic Polarimeter,可测量400nm~800nm范围每个波长的偏振态。该穆勒矩阵偏振测量仪还具有双折射偏振测试、斯托克斯偏振测试和映射mapping测量等功能，非常适合液晶显示器、投影仪、偏振光学元件、偏振光学、晶体、生物样品、荧光偏振等偏振态测量分析。

　　穆勒矩阵偏振测量仪Mueller Polarimeter特点

　　?无需校准,仪器在整个波长范围内进行了校准。

　　?波长分辨率高达2nm,采用分光计代替带通滤波片。

　　?可测量发散角和散射光,不仅可以测量准直光,还可以测量各种物质发光和反射光。

　　?用户友好软件，控制软件非常易用,便于用户控制和查找结果,测量结果存储在csv文件中。

　　(上述价格不一定准确，请您联系我们获得准确报价）

　　各种偏振能力测量

　　?双折射测量：在0～10万nm量级范围内，可同时测量快轴方向和延迟量。

　　?穆勒矩阵测量：可以进行更高水平的偏振分析。

　　?Mapping绘图能力:自动Y工作台可选配,方便样品偏振特性的分布。

　　客户订制化系统

　　我们可以对标准斯托克斯偏振测量仪 按照客户要求进行定制,比如紫外-近红外（UV-NIR）偏振态测量仪、用于测量微弱光的高灵敏度斯托克斯偏振测量仪系统、连接到显微镜上的斯托克斯偏振测量仪系统等等。

　　偏振样品的高级分析

　　利用外加的偏振态发生器（PSG）和软件可以测量样品的偏振特性。穆勒矩阵偏振测量仪Mueller Polarimeter的PSG和测量头单元可自由布置。它为需要构建适合多种应用的测量系统的用户提供了方便。从测量的几个stokes参数可以计算出如下偏振特性。

　　线二色性——线偏振光吸收

　　圆二色性——圆偏振光的吸收

　　线性双折射——相移（线性?圆偏振）

　　旋光——线偏振的旋转

　　去极化——降低DOP的能力

　　穆勒矩阵偏振测量仪Mueller Polarimeter规格

　　测量参数 斯托克斯参数（S0，S1，S2，S3），椭圆度，偏振方向，偏振度（DOP，DOLP，DOCP），偏振消光比

　　数据绘图 图形（波长v.s.参数），图形（数据点v.s.参数数量），庞加莱球，Ellips视图，警报（低光，饱和时）

　　特色功能 单次扫描，连续扫描，确认扫描，自动曝光

　　斯托克斯偏振计

　　波长范围 400～800nm

　　波长分辨率 <2nm

　　波长数 1500

　　最小测量时间 6秒

　　高精度模式测量时间 >20秒

　　精度 <2%

　　重复精度 0.01@3σ（斯托克斯参数）

　　方向精度 ±0.2度（基准面为底面）

　　测量原理 波片旋转、波片和分析仪旋转

　　双折射偏振计

　　原理 双斯托克斯数据分析

　　波长 与斯托克斯偏振计相同

　　测量时间 斯托克斯测量值的2倍

　　迟滞范围 0～λ/2纳米，使用拟合方法，zui大值为100000nm

　　快速轴范围 ±90度

　　重复性 1度（延迟）

　　穆勒矩阵偏振计

　　原理 四斯托克斯数据分析

　　波长 与斯托克斯偏振计相同

　　测量时间 斯托克斯测量值的4倍

　　重复性 ±0.01（16个矩阵元素）

　　数据分析 线性二向衰减,圆形二向衰减，线性双折射，圆双折射，去偏振