荧光寿命测量系统,荧光寿命测试系统,单光子计数TCSPC

　　这款荧光寿命测量系统是荧光寿命光谱仪,荧光寿命测量光谱仪,采用时间相关单光子计数TCSPC技术测量荧光寿命,是可靠的荧光寿命测试系统.

　　时间相关单光子计数TCSPC已经开发成功超过25年,被广泛认为是最灵敏的荧光寿命测量技术，提供荧光衰减测试所需的超快时间分辨率。

　　这款荧光寿命测量系统采用亚纳秒和皮秒脉冲二极管泵浦固体激光器DPSSL提供合适的波长,为合适的探测器提供足够快的响应时间,还有现代电子计时设备来将复杂的采集技术融入PCI计算机板。DPSSL的研发使得现在可以设计出结构紧密体型小的荧光寿命测量系统，用于生物环境,药业,化学技术半导体的纳米技术,先进的光学材料技术等领域。

　　荧光寿命测量系统构成

　　激光： STA-01SH

　　LD 激光驱动器

　　BS： 分束器

　　PD： 启动脉冲的PIN光电二极管

　　PSU： 通用多通道电源（PA PMT，USB SMD，PD）

　　Att： 衰减器

　　USB SMD： 两轴步进电机控制器 8SMC-USBh-B2-2

　　M1：电动翻转透镜- 8MR174-11+ 5MBM22SP-1

　　M2：透镜@ 5MBM23-05

　　L1、L2： 聚焦透镜 @ YZ 平移台

　　S@H： 样品固定装置 @ YZ 平移台

　　冷凝器： 检测了的发射的消色差冷凝器

　　FN： 陷波滤波器（531 nm）

　　单色器

　　PMT： 单光子探测器

　　PA： 前置放大器(PMT)的光电倍增管

　　TEC： PMT热电冷却器

　　HVS： PMT高电压

　　PC 和PCI TCSP–以PC 为基础的采集系统

　　CCD（USB）

　　荧光寿命测量系统应用

　　生物技术与生物医学科学

　　半导体科学与技术

　　激光材料与先进光学材料的研究

　　环境保护

　　可能的发展

　　FRET技术

　　3D 生命寿命微测图

　　终身板扶手（装配线多样本寿命分析）

　　荧光寿命测量系统软件

　　荧光（或等离子体发射）的时间分辨光谱

　　空间分辨荧光寿命测量（寿命映射）

　　3D显示数据和时间/波长轴剖面绘图

　　发射衰减动力学反褶积

　　时间分辨的PL和PLE光谱软件提供实验采集数据的声音和可视图。有5个主要的测量制度：

　　动力衰减探测器（波长/光子能量）和激励源（波长/光子能量和强度）的确定参数

　　在设置了激励波长（能量）和强度条件下，在探测器波长（能量）里动力衰减扫描

　　在设置了探测器波长（能量）和强度条件下，在激励波长（能量）里动力衰减扫描

　　在设置了探测器波长（能量）和激励波长（能量）条件下，在激励强度里动力衰减扫描

　　光子计数模式下的CW PL / PLE光谱，可以在扫描激励平均强度的过程中测得。2个窗口实时显示（RTD）表明动态积累过程（左窗口）和PL谱积分（PLE, I-dependence）–右窗口。

　　使用荧光寿命测量系统测量实例:

　　实验1:测量ZnSe晶体中的双光子激发荧光

　　实验2：ZnSe晶体中的双光子激发荧光和选定光子能量的运动衰减的3D图

　　实验3：ZnSe晶体中的双光子激发荧光和选定延迟时间频谱的3D图

　　荧光寿命测量系统规格

　　测量光谱范围: 200-1050nm

　　（300–1750nm需使用PMT和InGaAs光电阴极）

　　光谱分辨率： 0.05nm

　　可用激发波长: 1062nm,531nm,354nm,265.5nm

　　寿命测量域: 64·10-9–64秒

　　扫频频率 10~107Hz

　　时间分辨率

　　无反褶积 1ns

　　有反褶积 0.25ns

　　检测到的信号动态范围 36bit

　　10秒采集时间的信噪比 > 100