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| 品牌 |
其他 |
型号 |
XP-70 |
| 是否可击穿 |
不可击穿绝缘子 |
结构 |
悬式 |
| 功能 |
普通型 |
材质 |
半导体 |
| 产品用途 |
架空线路 |
连接结构标记 |
16 |
| 耐压 |
35KV |
绝缘电阻 |
65MΩ |
| 最小电弧距离 |
320mm |
结构高度 |
146mm |
| 加工定制 |
是 |
直径 |
255mm |
| 产品认证 |
ccc |
重量 |
5kg |
分析了日盲紫外成像仪尤其是紫外通道的工作原理,在此基础上提出了基于视频分析和数字图像处理提取参量来量化放电的方法,定义了光斑面积参量,研究了紫外成像仪的增益对光斑面积的影响规律并进行了理论上的解释。 提出了一种准同步采集和分析电信号和紫外成像参量的方法,在此基础上论文研究了光斑面积对电脉冲信号的响应特性并进行了理论分析,研究了一段时间内的大光斑面积帧的数量与对应时间内的火花(电弧)放电的脉冲数之间的关系,研究了光斑面积与电脉冲信号幅值之间的关系,得到了相关关系曲线。 研究了紫外图像中的图像大小随观测距离的变化规律,试验发现紫外通道的图像与可见光通道的图像大小随观测距离近似同比例增加或缩小,论文提出了利用可见光通道的图像信息来估计绝缘子表面放电“放电成像区域面积”的新方法,推导了相应的计算公式;建立了不同增益下放电成像区域面积与放电电脉冲幅值之间的关系,该方法有效地解决了距离对光斑面积影响的问题,采用LS-SVM回归算法实现了复合绝缘子放电电脉冲信号幅值的估计XP-10悬垂瓷质绝缘子串
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