VSY45超声波探伤仪粗晶探头 美国GE

　　纵波探头能适用于检测粗晶材料、原始的铸造材料，奥氏体和奥氏体焊缝等。

　　对于，由于粗晶粒结构所产生的噪声幅度与小缺陷的回波幅度基本一致，这样容易造成缺陷漏检。所以，粗晶材料时要选用特殊探头。有些探头可以检测部分奥氏体焊缝，并得到一些满意的结果，这主要取决于被检测材料的声学特性。我们一直致力于解决这个问题，我们选择不同焦点的和TR探头进行实验，得到检测粗晶材料的参数。

　　与此同时，我们得到了奥氏体材料制造商的大力支持。根据我们的经验和实验，我们针对各种粗晶粒材料设计了相应的探头，这些探头都取得了的效果。此外，这些测试结果还获得了信噪比，并且所有的粗晶探头都通过。

　　具有可更换保护膜的

　　频率（MHZ）

　　接触面（mm）

　　尺寸Φ(mm)

　　0.5

　　40

　　34

　　高阻尼

　　1

　　40

　　34

　　高灵敏度

　　1

　　33

　　28

　　非常好的信噪比

　　0.5

　　40

　　34

　　1

　　40

　　34

　　高阻尼，高信噪比

　　1

　　30

　　24

　　复合材料压电晶片

　　2

　　30

　　24

　　的灵敏度和信噪比

　　—单晶系列，复合材料压电晶片

　　频率（MHZ）

　　接触面（mm）

　　角度（ °）

　　深度范围

　　要求的探头线

　　WRY 60

　　WSY 45-2

　　WSY 60-2

　　WSY 45-4

　　WSY 70-4

　　2

　　2

　　2

　　2

　　2

　　2

　　4

　　4

　　4

　　48 x 25

　　48 x 25

　　48 x 25

　　28 x 13

　　28 x 13

　　28 x 13

　　28 x 13

　　28 x 13

　　28 x 13

　　45

　　60

　　70

　　45

　　60

　　70

　　45

　　60

　　70

　　5 - 100

　　5 - 80

　　5 - 55

　　6 - 25

　　4 - 20

　　3 - 15

　　3 - 30

　　3 - 20

　　2 - 15

　　}MPKL 2

　　}

　　}MPKL 2

　　双晶系列—复合材料压电晶片

　　频率（MHZ）

　　接触面（mm）

　　角度（ °）

　　1,8

　　1,8

　　1,8

　　4

　　44

　　53 x 29

　　53 x 29

　　53 x 29

　　30 x 15

　　30 x 15

　　30 x 15

　　45

　　60

　　70

　　45

　　60

　　70

　　15 - 70

　　10 - 60

　　5 - 45

　　2 - 30

　　1.5 - 20

　　1.5 - 20

　　}SEKL 2

　　}SEKN 2