OmniScan X3相控阵探伤仪 奥林巴斯

　　OmniScan X3相控阵探伤仪 奥林巴斯

　　OmniScan X3相控阵探伤仪 优势：

　　可以一次性配置多个探头/组

　　在仪器上创建双晶线性、矩阵和双矩阵列的设置

　　自动楔块验证

　　单扫校准

　　使用同时多点时间校正增益（TCG）进行数据采集

　　对保存的设置进行简化的校准验证 过程

　　质量更好的图像可以使用户更有信心地判读缺陷指示信号

　　? 快速访问所需的功能，即使在检测过程中，也能做到这点

　　? 高效的菜单结构，意味着无需多次按动按钮，即可以完成 检测

　　? 兼具高性能和多功能：在需要时，可以使用高级模式访问专 家级别的功能

　　? 使用奥林巴斯科学云系统（OSC），以无线方式发送数据， 或与检测现场以外的同事分享屏幕

　　? 支持双晶线性/双晶矩阵阵列探头、动态深度聚焦、自动光 标定位以及更多其它功能

　　? 4 GB机载文件容量可以帮助用户在无需分段扫查或卸载数 据的情况下扫查较大的部件

　　? 使用内置GPS功能可以对获得检测结果的地点进行跟踪

　　检测团队中的主力成员

　　OmniScan X3探伤仪具有强大的检测性能和很高的灵活性，可以迎接相控阵检测提出的挑战。无论您正在检测的是焊 缝、管道、压力容器，还是复合材料，OmniScan X3仪器都可以为您提供适用的功能，帮助您有效地完成检测工作， 并充满信心地解读缺陷数据。

　　焊缝

　　通过多组声束设置视图，核查是否可以正确覆盖焊缝区域

　　波幅范围可被扩展到800 %，因此用户无需再次扫查部件， 就可以对饱和的指示信号进行表征，如：未熔合的指示信 号。

　　支持多探头配置和不同的触发方案，从而可以更好地覆盖每 个焊缝区域

　　焊缝闸门可以突出显示需要关注的区域

　　腐蚀

　　很高的采集速度，可以更方便地检测较大的管道或容器

　　4 GB单个文件容量，可以减少中断操作的次数，并采集到 更多的数据

　　与所有奥林巴斯腐蚀扫查器相兼容

　　支持双晶线性阵列探头，从而可获得改进的近表面分辨率

　　复合材料

　　高波幅范围（800 %）和16比特数字转换器可以在检测衰减 性较强的材料时，获得更宽泛的动态检测范围

　　TCG动态范围可达65 dB，且提供经过改进的TCG表格视 图，以对各个点进行手动编辑

　　12 kHz的扫查速度，可以在较大的扫查区域中快速采集数据

　　对很宽的脉冲宽度进行控制，以优化对低频探头的使用

　　OmniScan X3相控阵探伤仪 规格参数：