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| 型号 |
MX-1100 |
加工定制 |
否 |
| 是否进口 |
否 |
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MX-1100塑料薄膜纸张测厚仪 美国Oakland
可测样品测量范围行程（探头缩回高度）精度平行度测头尺寸测头压力循环速率下落速率仪器尺寸（宽x长x高）标准配置选配件符合标准。
| MX-1100塑料薄膜纸张测厚仪 详细参数
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| 所有的薄膜和薄片材料 | |
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0 - 50mil，0 - 100mil，0 - 200mil，0 - 300mil 或0 - 1270um，0 - 2540um，0 - 5080um，0 - 7620um 或0 - 1.3mm，0 - 2.5mm，0 - 5.0mm，0 - 7.5mm 或其他测量范围 当订购公制单位时，请um或mm显示
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| 对应的测量范围加1270um - 2540um 分辨率：0.01mil或0.1um或0.001mm，量程在0 - 200mil时； 0.1mil或1um或0.001mm，量程在0 - 300mil时。 | |
| +/-0.02mil或+/-0.5um或+/-0.0005mm | |
| +/-1.0um或更好 | |
| 直径4.3mm（薄膜）直径15.9mm（纸张）或针对其他材料的其他尺寸 | |
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4.0 - 8.0psi（0.562kg/cm2），薄膜7.3psi（0.513kg/cm2）， 纸张或针对其他材料的其他设置
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| 20/分钟（40/分钟，可选），薄膜20/分钟（12/分钟，可选），纸张或针对其他材料的其他设置 | |
| 1mm/sec，纸张 | |
| 25 x 25 x 28 cm | |
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标配 主机，标准厚度片，脚踏开关
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| 打印机，质量控制软件（Quality Control Software） | |
| ASTmD 374，TAPPI T-411，BS 2782-6，Din 53370 | |
15002100776