CMI760 PCB铜厚度测量仪 日本HITACHI日立

　　CMI760 PCB铜厚度测量仪 日本HITACHI日立

　　CMI760 PCB铜厚度测量仪 铜箔,履铜板，表面铜，铜线条和孔壁铜厚度，使用一台设备完成全部测量要求

　　CMI760 PCB 通孔和铜表面测量仪是专为PCB电子制造商设计的台式涂层厚度计。

　　高度通用的CMI760涂层厚度计专为需要快速，简便，准确和重复的PCB板通孔测量以及刚性，柔性，单面和双面或多层铜镀层测量而设计PCB板。

　　CMI760 Series 通用双重技术主要特点：|双技术——涡流和微电阻。|表面和通孔探头。|活动统计显示。|可选脚踏开关。仪表规格|尺寸：英寸：11 1/2（宽）x 10 1/2（深）x 5 1/2（高）厘米：29.21（宽）x 26.67（深）x 13.97（高）。|重量：6 磅。 （2.7 公斤）。|单位：从密耳、微米、微米、毫米、英寸、或 % 作为显示单位。|显示：大 LCD 480 (H) x 320 (V) 像素，背光，广角视图。|统计显示：读数、标准偏差、平均值、高/低。|图表：直方图、趋势图、x-Bar 和 r-图。SRP-4 探针：|准确度：±1% (±0.1 μm) 参考参考标准。|精度：化学镀铜：典型值为 0.2%。电镀铜：典型值为 0.3%。|分辨率：mil：0.01 at > 1，0.001 at < 1。μm：0.1 at > 10, 0.01 at < 10, 0.001 at <1。

　　ETP 探头规格：|精度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)。|精度：1.0% 在 1.0% 典型值。|分辨率：0.01 密耳（0.25 微米）。|涡流：符合 ASTM E376 方法

　　厚度范围：0.08-4.0 密耳（1-102 微米）。|最小孔径：35 密耳（899 微米）。PCB对比图我们为 PCB 行业内的 PCB 量规提供多种选择，为您提供可满足您的应用需求的和成本效益的解决方案。请参考下面的比较图表或获取我们的专家建议。

　　测试箔、层压板、表面、痕迹和通孔带单个设备的铜CMl760 接受多种探头类型以满足几乎任何PCB应用，包括表面覆铜和通孔应用程序。

　　我们的 CMl760 标配 SRP-4 探头和一个用于解释测试数据的高级统计包。该仪器具有高度可扩展性，能够同时微电阻和涡流测试，用于准确和铜的测量。

　　可选配件可用测量通孔铜厚度。

　　SRP-4 探针CMI760 包括一个系留 SRP-4 探头，带有用户可更换的提示，以增加便利性和更高的成本有效的。该探头由四个固定在一个专利设计，经久耐用，不易破损和磨损。透明外壳便于将探头放置在小痕迹上。系绳电缆非常适合现场应用以及其占地面积小，方便易用。

　　可选的 ETP 探头使用我们的 ETP 探针，CMI760 以涡流运行用于通孔测量。该探头产生准确的读数与电路板的多层无关，同等工作在双面和多层板上，蚀刻前后，即使使用锡和锡/铅抗蚀剂。它还提供温度补偿功能，用于立即测量电路板从电镀槽中取出后。