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| 型号 |
BZ-KDY-1A |
货号 |
BZ-KDY-1A |
| 材质 |
1 |
适用范围 |
BZ-KDY-1A 便携式四探针电阻率测试仪 |
| 加工定制 |
否 |
是否进口 |
否 |
| 产地 |
上海 |
|
BZ-KDY-1A 便携式四探针电阻率测试仪
1、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体，也可测量薄硅片电阻率及方阻。
2、电阻率测量范围复盖常用的区段：0.01—199.9Ω·cm。（可添加电阻率小于0.5Ω·cm的报警功能）
方块电阻测量范围复盖常用的区段：0.1—1999Ω/□。（可添加方块电阻小于5Ω/□的报警功能）
3、配置恒流源，测量电流稳定，分两档：1mA、10mA，每档均可在大范围内调节（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。
4、测量精度高：电器测量精度优于0.3%；
整机测量误差：测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。
测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。
5、重量轻，约2.5kg；体积小：240×210×100（mm）。
6、可配用多种探针间距的四探针头：1.00mm、1.59mm
测试台另收费
15002100776