低频介电常数及介质损耗测试系统

　　一 本设备适用准

　　1 GBT 1409-2006 测量电气缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)电容率和介质损耗因数的推荐方法

　　2 GBT 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

　　3 A-D150-介电常数测试方法

　　4 GB9622.9-88/JT 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法

　　二 介电常数/介质损耗测试主机：

　　1 参数

　　测量功能

　　测试频率 20 Hz－5MHz，10mHz辨率

　　测试参数 |Z|, |Y|, C, L, X, B, R, G, D, Q, θ,DCR

　　基本测量准确度 0.05%

　　等效电路 串联, 并联

　　数学功能 值偏差, 百比偏差

　　量程方式 自动, 保持, 手动

　　触发方式 内部, 手动, 外部, 总线

　　测量速度（≥1kHz） 快速: 80次/秒, 中速: 30次/秒, 慢速: 3次/秒

　　平均次数 1—255

　　延时时间 0—60s, 以1ms步进

　　校准功能 开路/ 短路/ 负载

　　测试端配置 五端

　　列表扫描 10点列表扫描功能

　　显示方式 直读，Δ，Δ%，V/I（被测电压/电流监视）

　　显示器 800×480 RGB7英寸16: 9 TFT LCD显示器

　　测试信号

　　输出阻抗 30 Ω, 100 Ω, 50Ω, 10 /CC可

　　测试信号电平 正常： 5mV-2V, 1mV步进

　　恒电平：10mV-1V, 1mV步进

　　偏置源 内部 0V, 1.5V, 2V

　　选配 UC6802A：±10V（±100mA）直流偏置电流

　　UC6802B：0-1A直流偏置电流

　　显

　　|Z|, R, X 0.01mΩ —99.9999 MΩ

　　DCR 0.01 mΩ —99.9999 MΩ

　　|Y|, G, B 0.00001μ —99.9999

　　C 0.00001 pF —9.9999 F

　　L 0.00001 μH —9999.99 H

　　D 0.00001 —9.9999

　　Q 0.00001 —9999.9

　　θ(DEG) -179.999o —179.999 o

　　θ(RAD) -3.14159 —3.14159

　　其他

　　比较器功能 十档：（九档合格，一档不合格），另有一个附属档AUX

　　存储器 10组内部仪器设定供存储/调用

　　接口 配R232C、HANDLER、UB HOT，耳机接口

　　三 （数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：

　　固体：材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm （二选一）

　　液体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）

　　四 低频介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料:

　　1 缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚,PTFE聚四,P聚,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等