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| 品牌 |
Kafer |
是否支持加工定制 |
是 |
| 是否进口 |
是 |
类型 |
数字式测厚仪 |
| 适用范围 |
工业 |
|
Kafer FD 50 R数字式测厚仪是一款可配置升降装置的精密测量设备，以下从技术参数、升降功能适配性、应用场景及选型建议四个维度展开分析：
一、核心参数
测量精度：分辨率达0.01mm，误差极限值±20μm，适合高精度厚度检测。
测量范围：量程10mm，颈深50mm，可覆盖常规工业材料厚度需求。
机械结构：标准测量头为C型（10mm ?平头），接触力0.6N±20%，支持定制接触点形状（a、b、d、e型）。
数据接口：配备RS232接口适配器，支持数据传输与设备联动。
环境适应性：工作温度10°C至40°C，电池寿命3年，满足多场景需求。
二、升降装置适配性
模块化设计：Kafer提供FD 50 R专用升降模块，通过机械接口与主机刚性连接，确保升降过程中测量头与被测物垂直度。
手动/电动双模式：
手动升降：采用精密丝杆传动，通过旋钮实现微米级高度调节，适合实验室精密校准。
电动升降：可选配伺服电机驱动，支持PLC程序控制，实现生产线在线自动检测。
负载能力：升降装置承重≥2kg，可稳定承载FD 50 R主机及测量头，避免振动误差。
三、典型应用场景
精密制造：用于航空叶片涂层厚度检测、半导体晶圆封装层厚度监控，确保产品符合ISO 2178/2360标准。
质量管控：在汽车涂装车间检测车身漆膜厚度，通过升降装置适应不同曲面部位，提升检测覆盖率。
科研实验：在材料实验室测量高分子薄膜厚度，结合升降装置实现多位置自动化扫描。
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