日本JIMA RT CT-01分辨率测试卡

　　JIMA（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

　　JIMA RT CT-01分辨率测试卡（专用于三维CT系统分辨率测试）

　　测试卡封装在一个防护盒中

　　图案布局：T型

　　线/空间尺寸：5种规格图案,3μm,4μm,5μm,6μm,7μm

　　JIMA RT RC-04分辨率测试卡：

　　测试卡封装在一个防护盒中

　　盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm

　　芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm

　　图案布局：T型

　　线/空间尺寸：32种规格图案,0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm，7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm

　　JIMA RT RC-02分辨率测试卡：

　　测试卡封装在一个防护盒中

　　盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm

　　芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm

　　图案布局：L型

　　线/空间尺寸： 16种规格图案,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm